41. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع : Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7895
.
E42S97
42. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008
43. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده : / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK7874
.
T4323
2011
44. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ;
45. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits /
پدیدآورنده : S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits and Systems.,Control Structures and Microprogramming.,Logic Design.,Performance and Reliability.,Algorithms & data structures.,Circuits & components.,Computer architecture & logic design.,Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Systems analysis & design.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical
رده :
TK7874
.
75
46. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
47. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده :
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
48. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI )7891: Como, Italy(
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
49. Testing and diagnosis of VLSI and USLI
پدیدآورنده : Edited by Fabrizio Lombardi and Maria Giovannasami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
50. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده : Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
51. Tutorial-VLSI testing and validation techniques
پدیدآورنده : )compiled by( Hassan K. Reghbati
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
52. Tutorial--VLSI testing & validation techniques
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
53. Tutorial test generation for VLSI chips
پدیدآورنده : ]edited by[ Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,، Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
T8857
1988
54. Unified methods for VLSI simulation and test generation
پدیدآورنده : by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
موضوع : Integrated circuits- Very large scale integration- Computer-aided design,Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
55. VLSI design and test :
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing ;
56. VLSI test principles and architectures :
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.,Circuitos integrados vlsi.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.,Testen,VLSI
رده :
TK7874
.
75
.
V587
2006eb
57. VLSI testing
پدیدآورنده : edited by T.W. Williams
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
V5666
1986
58. VLSI testing :
پدیدآورنده : Stanley L. Hurst
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
59. VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, Stanley L.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
H8882
1998
60. VLSI testing : digital and mixed analogoue /digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, S. L.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
H8
1998
